基于噪声关联的噪声敏感系数测量方法
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摘要

本发明提供了一种基于噪声关联的噪声敏感系数测量方法,包括:同步记录信号输出的误差序列{yj}和一个或多个环境噪声序列{xi,j},进行数学计算,在积累大量数据的基础上,y对xi的真实敏感系数就可以用计算值表示。修正数据记录的相位差,数据记录过程中有可能造成xi,j与yj存在相位差,表现为的值对于不同积分时间τ而言不同。画出曲线,并在曲线中提取相位差信息,计算出存在的相位差,对相位差进行修正得到满足精度要求的该方法是一种基于噪声统计关联直接

基本信息
专利标题 :
基于噪声关联的噪声敏感系数测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110133383A
申请号 :
CN201910298802.8
公开(公告)日 :
2019-08-16
申请日 :
2019-04-15
授权号 :
CN110133383B
授权日 :
2022-04-05
发明人 :
魏荣王倩张宁
申请人 :
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 :
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 :
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 :
张宁展
优先权 :
CN201910298802.8
主分类号 :
G01R29/08
IPC分类号 :
G01R29/08  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
法律状态
2022-04-05 :
授权
2019-09-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/08
申请日 : 20190415
2019-08-16 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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