功率源反射系数的测量方法及系统
实质审查的生效
摘要

本发明提供一种功率源反射系数的测量方法及系统。该方法包括:对矢量网络分析仪的两端口进行校准,采用校准后的矢量网络分析仪测量处于不同阻抗状态的阻抗调配器的S参数;采用校准后的矢量网络分析仪测量功率探头的反射系数;基于功率源的不同输出功率和处于不同阻抗状态的阻抗调配器,从功率计上分别读取与输出功率对应的功率值;根据S参数、反射系数以及功率值求解超定方程,得到功率源的反射系数。本发明能够准确测量功率源的反射系数。

基本信息
专利标题 :
功率源反射系数的测量方法及系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114509607A
申请号 :
CN202210005803.0
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-01-04
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
栾鹏霍晔王一帮刘晨吴爱华李彦丽孙静
申请人 :
中国电子科技集团公司第十三研究所
申请人地址 :
河北省石家庄市合作路113号
代理机构 :
石家庄国为知识产权事务所
代理人 :
付晓娣
优先权 :
CN202210005803.0
主分类号 :
G01R27/06
IPC分类号 :
G01R27/06  G01R21/10  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R27/00
测量电阻、电抗、阻抗或其派生特性的装置
G01R27/02
电阻、电抗、阻抗或其派生的其他两端特性,例如时间常数的实值或复值测量
G01R27/04
在具有分布常数的电路中的测量
G01R27/06
反射系数的数量;驻波比的测量
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 27/06
申请日 : 20220104
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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