一种标签编码天线反射系数测量方法

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摘要

本发明涉及一种标签编码天线反射系数测量方法。在结构健康检测领域，可以通过布置在其上传感器的参数变化来判断和预测建筑物的结构变化。传统的传感器参数的测量采集更多的是使用矢量网络分析仪，本发明提供了一种基于通用软件无线电外设(USRP)平台的标签编码天线器件的反射系数测量方法。该方法基于上述的软硬件平台，配合定向耦合器等器件，通过在软件端对于USRP的配置和后续对于数据的处理，对贴在建筑物上面的标签编码天线进行参数测量。相比于传统的矢量网络分析仪的测量方案，该方法能够增加实验的灵活度，同时可以掌握更多影响建筑结构健康因素的特征参数，对于建筑结构的健康程度做出更合理的分析。

基本信息

专利标题：

一种标签编码天线反射系数测量方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN113075465A

申请号：

CN202110341788.2

公开（公告）日：

2021-07-06

申请日：

2021-03-30

授权号：

CN113075465B

授权日：

2022-05-13

发明人：

万国春李文钊

申请人：

同济大学

申请人地址：

上海市杨浦区四平路1239号

代理机构：

上海科律专利代理事务所(特殊普通合伙)

代理人：

叶凤

优先权：

CN202110341788.2

主分类号：

G01R29/10

IPC分类号：

G01R29/10