体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法
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摘要

本发明公开了一种解决已有方法通用性差、工作量大、准确度低问题的体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法。该方法首先通过建立空间点源效率函数确定SGS断层体素的无衰减效率,然后计算体素发射的γ射线进入探测器过程中在不同断层里的衰减长度,结合各断层的线衰减系数确定体素的衰减效率,最后对断层中所有体素的衰减效率进行加权平均,实现断层的衰减效率刻度。采用该方法在探测系统不变的情况下,对探测区域内的任意核废物桶位置、断层个数和体素个数,可快速实现断层衰减效率刻度,使刻度实现过程通用化、简单快捷化,避免了蒙特卡罗方法计算量巨大的局限,同时相比传统方法提高了效率刻度准确度。

基本信息
专利标题 :
体素衰减效率加权平均的SGS断层效率刻度方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110887853A
申请号 :
CN201811043829.4
公开(公告)日 :
2020-03-17
申请日 :
2018-09-07
授权号 :
CN110887853B
授权日 :
2022-04-22
发明人 :
郑洪龙庹先国石睿李怀良李志刚何艾静母襄樊王叶蔺刘威
申请人 :
四川理工学院;西南科技大学
申请人地址 :
四川省自贡市汇兴路学苑街180号
代理机构 :
成都点睛专利代理事务所(普通合伙)
代理人 :
李玉兴
优先权 :
CN201811043829.4
主分类号 :
G01N23/044
IPC分类号 :
G01N23/044  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料,例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/02
通过使辐射透过材料
G01N23/04
并形成材料的图片
G01N23/044
使用X射线分层摄影法或层析X射线照相组合
法律状态
2022-04-22 :
授权
2020-04-10 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/044
申请日 : 20180907
2020-03-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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