本申请涉及存储器测试技术领域，具体而言，涉及一种存储器的调试处理方法及其调试处理系统。该存储器的调试处理方法包括：获取原始测试代码；通过原始测试代码对存储器进行测试；在测试过程中检测到存储器出现错误时，提取原始测试代码中的原生测试代码，原生测试代码仅包括操作指令，且操作指令包括设置指令、读指令、写指令中的一种或多种；确认原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令，此操作指令为待验证操作指令；将待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对存储器进行测试，若存储器未出现错误，则待验证操作指令为错误指令。该技术方案能够快速定位错误代码，从而能够提高存储器的调试效率。