存储器的调试处理方法及其调试处理系统
授权
摘要
本申请涉及存储器测试技术领域,具体而言,涉及一种存储器的调试处理方法及其调试处理系统。该存储器的调试处理方法包括:获取原始测试代码;通过原始测试代码对存储器进行测试;在测试过程中检测到存储器出现错误时,提取原始测试代码中的原生测试代码,原生测试代码仅包括操作指令,且操作指令包括设置指令、读指令、写指令中的一种或多种;确认原生测试代码中与错误出现的时间点相对应的操作指令,此操作指令为待验证操作指令;将待验证操作指令替换为通过测试的操作指令或空操作指令并再次对存储器进行测试,若存储器未出现错误,则待验证操作指令为错误指令。该技术方案能够快速定位错误代码,从而能够提高存储器的调试效率。
基本信息
专利标题 :
存储器的调试处理方法及其调试处理系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111104267A
申请号 :
CN201811260457.0
公开(公告)日 :
2020-05-05
申请日 :
2018-10-26
授权号 :
CN111104267B
授权日 :
2022-05-13
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区翠微路6号海恒大厦630室
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
袁礼君
优先权 :
CN201811260457.0
主分类号 :
G06F11/22
IPC分类号 :
G06F11/22 G06F11/26
IPC结构图谱
G
G部——物理
G06
计算;推算或计数
G06F
电数字数据处理
G06F11/00
错误检测;错误校正;监控
G06F11/22
在准备运算或者在空闲时间期间内,通过测试作故障硬件的检测或定位
法律状态
2022-05-13 :
授权
2020-05-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G06F 11/22
申请日 : 20181026
申请日 : 20181026
2020-05-05 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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