随机存储器失效的检测处理方法及其系统
授权
摘要
本发明公开了一种RAM失效的检测处理方法，应用于对CPU/DSP的RAM失效的检测处理，包括：读取所述RAM中的程序内容；将读取的程序内容与正确的程序内容进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并进行数据修复；或者将读取的程序内容采用设定的校验方法进行数据校验，并与正确的校验结果进行比对，当两者不一致时，判断RAM失效并报警。采用本发明方法，可及时检测CPU/DSP RAM失效的情况，及时采取相应的处理措施，将RAM失效引起的影响降到最低。
基本信息
专利标题 ：
随机存储器失效的检测处理方法及其系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN1851826A
申请号 ：
CN200610001749.3
公开（公告）日 ：
2006-10-25
申请日 ：
2006-01-25
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
李强
申请人 ：
华为技术有限公司
申请人地址 ：
518129广东省深圳市龙岗区坂田华为总部办公楼
代理机构 ：
北京同达信恒知识产权代理有限公司
代理人 ：
郭润湘
优先权 ：
CN200610001749.3
主分类号 ：
G11C29/00
IPC分类号 ：
G11C29/00 G06F11/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验；备用或离线操作期间测试存储器
法律状态
2009-09-02 ：
授权
2006-12-20 ：
实质审查的生效
2006-10-25 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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