本申请公开了一种存储器检测方法及其装置，该方法包括：初始化存储单元阵列中的全部存储单元；确定若干条目标字线，相邻的两条目标字线之间具有若干条干扰字线；开启目标字线，对目标字线连接的存储单元执行写入操作；对干扰字线进行若干次反复开启和关断；对目标字线连接的存储单元执行读取操作；其中，采用强制灌电流的方式，对干扰字线连接的存储单元执行写入操作。该检测方法可以放大存在潜在泄漏或短路的两条相邻字线漏电的电压差，从而检测出由于工艺制程差异导致两个存储单元的部分靠在一起而产生的双存储单元失效，从而可避免产品良率降低。