存储器的检测方法及检测装置
授权
摘要

本发明实施例提供一种存储器的检测方法及检测装置,用于检测漏电的位线,方法包括:存储器包括多个存储单元,存储器还包括多个感测放大器,感测放大器包括提供低电位电压的电源线以及提供高电位电压的电源线;向每一存储单元写入第一存储数据;在写入第一存储数据之后,进行读取操作,基于第一真实数据与第一存储数据的差异,获取第一测试结果;再次进行读取操作,以读取每一存储单元内的第二真实数据;基于第二真实数据与第二存储数据的差异,获取第二测试结果;基于第二测试结果以及第一测试结果,获取漏电的位线的具体位置。本发明实施例提供的存储器的检测方法,有利于提高检测存储器的漏电的位线的准确度。

基本信息
专利标题 :
存储器的检测方法及检测装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN113012745A
申请号 :
CN202110310429.0
公开(公告)日 :
2021-06-22
申请日 :
2021-03-23
授权号 :
CN113012745B
授权日 :
2022-05-31
发明人 :
赵哲孙龙杰杨龙陈永烜许兰平
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
成丽杰
优先权 :
CN202110310429.0
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-05-31 :
授权
2021-07-09 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20210323
2021-06-22 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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