存储器的检测方法、检测系统、可读介质及电子设备
实质审查的生效
摘要

本公开提供了一种存储器的检测方法、检测系统、计算机可读介质及电子设备,该检测方法包括:向多条第一位线连接的存储单元写入第一电压,向多条第二位线连接的存储单元写入第二电压,所述第一位线与所述第二位线交替设置,所述第一电压大于所述第二电压;经过加长的预设暂停时间使所述存储单元进行漏电后,读取所述第一位线或所述第二位线连接的所述存储单元,并判断各所述存储单元的读取结果是否等于其写入的所述第一电压或所述第二电压;若所述存储单元的读取结果不等于其写入的所述第一电压或所述第二电压,则判断所述存储器存在同轴字线双位元电容漏电。能够提前判断出存储器是否存在同轴字线双位元电容漏电。

基本信息
专利标题 :
存储器的检测方法、检测系统、可读介质及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114512173A
申请号 :
CN202210171745.9
公开(公告)日 :
2022-05-17
申请日 :
2022-02-24
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
楚西坤第五天昊刘东
申请人 :
长鑫存储技术有限公司
申请人地址 :
安徽省合肥市经济技术开发区空港工业园兴业大道388号
代理机构 :
北京律智知识产权代理有限公司
代理人 :
王辉
优先权 :
CN202210171745.9
主分类号 :
G11C29/12
IPC分类号 :
G11C29/12  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G11
信息存储
G11C
静态存储器
G11C29/00
存储器正确运行的校验;备用或离线操作期间测试存储器
G11C29/04
损坏存储元件的检测或定位
G11C29/08
功能测试,例如,在刷新、通电自检或分布型测试期间的测试
G11C29/12
用于测试的内置装置,例如,内置的自检装置
法律状态
2022-06-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G11C 29/12
申请日 : 20220224
2022-05-17 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
  • 联系电话
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 联系 Q Q
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 关注微信
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332
  • 收藏
    电话:023-6033-8768
    QQ:1493236332