本公开提供了一种寄生电容的检测方法、存储器和可读存储介质，涉及半导体技术领域。其中，检测方法包括：提供多个用于测试的半导体器件，各所述半导体器件中源极、漏极、有源层、栅极、导线的数量以及导线的截面积相同，各所述半导体器件中导线的长度各不相同；根据多个所述半导体器件的多个总电容值与多个所述导线的长度确定半导体器件中单位长度导线与栅极之间的电容，所述单位长度导线与栅极之间的电容为单位长度寄生电容；确定半导体待测器件中对应的导线长度；根据单位长度寄生电容与半导体待测器件中对应的导线长度，确定半导体待测器件的寄生电容。通过本公开的技术方案，能够得到具有较高的检测精度的寄生电容。