校验数据生成方法及固态硬盘

授权

摘要

本发明涉及固态硬盘技术领域，提供一种校验数据生成方法及固态硬盘，所述方法包括：对起始编号的数据die中多个plane做校验运算，得到第一校验数据；将第一校验数据与和起始编号连续的当前编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，得到第二校验数据；将第二校验数据与和当前编号连续的下一个编号的数据die的多个plane依次迭代做校验运算，直到完成多个数据die的校验运算，得到校验结果。本发明通过对现有RAID的改进，对每个RAID条带做校验运算时只需要一份内存资源，大大减少了RAID对内存资源的消耗，提升了固态硬盘的性能。

基本信息

专利标题：

校验数据生成方法及固态硬盘

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN109542671A

申请号：

CN201811450337.7

公开（公告）日：

2019-03-29

申请日：

2018-11-30

授权号：

CN109542671B

授权日：

2022-06-07

发明人：

任艳伟

申请人：

湖南国科微电子股份有限公司

申请人地址：

湖南省长沙市长沙经济技术开发区泉塘街道东十路南段9号

代理机构：

北京超凡志成知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

吴迪

优先权：

CN201811450337.7

主分类号：

G06F11/10

IPC分类号：

G06F11/10 G06F3/06