本申请公开了一种校验数据生成方法、装置、电子设备及计算机可读存储介质，该方法包括：获取与独立冗余磁盘阵列对应的存储状态矩阵；在磁盘向量中确定非参照向量，并在非参照向量构成的初始数据区进行数据向量元素均分处理，得到第一数据区和第二数据区；对存储状态矩阵中的第一数据区和第二数据区进行数据交换处理，得到第一矩阵；在第一矩阵的第一数据区和第二数据区中确定若干个二阶矩阵组，并对各个二阶矩阵组中的目标磁盘元素进行位置交换处理，得到第二矩阵；基于第二矩阵进行单纠错编码生成处理，得到第一校验数据；基于第二矩阵进行双纠错编码生成处理，得到第二校验数据；该方法可以提高数据恢复速度和效率。