偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构
授权
摘要
本申请公开了一种偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构，属于光通信技术领域。应用于包括光器件的检测系统，方法包括：获取第一时长内的两组光功率；在两组光功率中筛选至少一组符合相同功率约束条件的目标光功率，每组目标光功率包括分别来自两组光功率中的第一目标功率和第二目标功率；基于至少一组目标光功率，确定光器件的偏振相关损耗PDL。由于本申请实施例提供的PDL的确定方法中，在保证光器件自身功能的基础上，还可以确定该光器件的PDL，达到了能够准确检测出该光器件的PDL的效果。
基本信息
专利标题 ：
偏振相关损耗的确定方法、检测系统及光信号传输结构
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111366334A
申请号 ：
CN201811602752.X
公开（公告）日 ：
2020-07-03
申请日 ：
2018-12-26
授权号 ：
CN111366334B
授权日 ：
2022-05-13
发明人 ：
贾伟宗良佳邹冰毛磊潘超
申请人 ：
海思光电子有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖高新区高新大道999号
代理机构 ：
北京三高永信知识产权代理有限责任公司
代理人 ：
颜晶
优先权 ：
CN201811602752.X
主分类号 ：
G01M11/00
IPC分类号 ：
G01M11/00 G02B27/28
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/00
光学设备的测试；其他类目未包括的用光学方法测试结构部件
法律状态
2022-05-13 ：
授权
2021-02-02 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/00
申请日 : 20181226
申请日 : 20181226
2020-07-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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