TD-LTE天线合成波束测试装置
授权
摘要
本发明涉及一种TD‑LTE天线合成波束测试装置，包括多功分网络板、多个介质滑动组件及屏蔽外壳。介质滑动组件与分支路相应滑动设置，介质滑动组件包括第一介质滑动片与第二介质滑动片。第一介质滑动片与第二介质滑动片分别覆盖在多功分网络板上的分支路的两侧。介质滑动组件相对于多功分网络板滑动时，分支路被所述第一介质滑动片与第二介质滑动片所覆盖的区域面积大小能相应调整。屏蔽外壳设有屏蔽腔，多功分网络板与介质滑动组件均位于屏蔽腔内。上述的TD‑LTE天线合成波束测试装置，各个支路的输出相位均可以通过驱动与支路对应的介质滑动组件来进行调整，从而大大提升了TD‑LTE天线方向图的测试效率。
基本信息
专利标题 ：
TD-LTE天线合成波束测试装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111381110A
申请号 ：
CN201811640941.6
公开（公告）日 ：
2020-07-07
申请日 ：
2018-12-29
授权号 ：
CN111381110B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
邵金华李长恒卢吉水卜力周洪剑孙全有
申请人 ：
京信通信技术（广州）有限公司
申请人地址 ：
广东省广州市广州经济技术开发区金碧路6号
代理机构 ：
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 ：
周修文
优先权 ：
CN201811640941.6
主分类号 ：
G01R29/10
IPC分类号 ：
G01R29/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-07-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/10
申请日 : 20181229
申请日 : 20181229
2020-07-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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