一种多波束反射面天线测试装置
授权
摘要
本实用新型涉及一种多波束反射面天线测试装置,包括阵列天线、反射面天线、阵列天线固定架、反射面天线固定架,所述的反射面天线固定架通过反射面天线支撑座固定在底座上,且反射面天线固定架可沿反射面天线支撑座实现纵向位移;所述的阵列天线固定架通过阵列天线位姿调整装置固定在底座上,所述的阵列天线位姿调整装置可实现阵列天线固定架的X向和Y向的位移以及阵列天线固定架俯仰角度及轴向的旋转调整,所述的阵列天线固定架与反射面天线固定架上分别设有锥窝靶标。由上述技术方案可知,本实用新型可实现阵列天线多自由度的姿态调整以及反射面天线的Y向调整,由此解决了多波束反射面天线测试所需姿态的调整问题。
基本信息
专利标题 :
一种多波束反射面天线测试装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202122865886.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2021-11-22
授权号 :
CN216310135U
授权日 :
2022-04-15
发明人 :
束洋孙远涛杨双根周骏杨涛王小宇曹强石磊吴涛石方亮廖延鹏李盛鹏
申请人 :
中国电子科技集团公司第三十八研究所
申请人地址 :
安徽省合肥市高新区香樟大道199号
代理机构 :
合肥金安专利事务所(普通合伙企业)
代理人 :
徐伟
优先权 :
CN202122865886.4
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10 G01R1/04
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2022-04-15 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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