亚体素分辨率磁共振指纹成像
授权
摘要
本发明提供了一种磁共振成像(MRI)系统(100)，所述系统包括用于存储机器可执行指令(140)和MRF脉冲序列命令(142)的存储器(134)。所述MRF脉冲序列命令使所述MRI系统根据磁共振(MR)指纹协议来采集MRF磁共振数据(144)。所述脉冲序列命令被配置用于以二维切片(410、412、414、416、418、420)采集所述MRF磁共振数据，其中，所述二维切片具有切片选择方向，其中，所述脉冲序列命令包括一连串脉冲序列重复。所述一连串脉冲序列重复包括对所述MRF磁共振数据进行重复采样的采样事件。所述MRI系统还包括用于控制所述磁共振成像系统的处理器。所述机器可执行指令的运行使所述处理器：通过利用所述MRF脉冲序列命令控制所述磁共振成像系统来采集(200)所述MRF磁共振数据；使用所述MRF磁共振数据来构建(202)针对所述二维切片的每个体素的至少一个磁共振参数值的系列(148)，其中，所述系列
基本信息
专利标题 ：
亚体素分辨率磁共振指纹成像
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110573897A
申请号 ：
CN201880028381.0
公开（公告）日 ：
2019-12-13
申请日 ：
2018-03-30
授权号 ：
CN110573897B
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
T·E·阿姆托尔M·I·多内瓦K·佐默P·柯肯
申请人 ：
皇家飞利浦有限公司
申请人地址 ：
荷兰艾恩德霍芬
代理机构 ：
永新专利商标代理有限公司
代理人 ：
刘兆君
优先权 ：
CN201880028381.0
主分类号 ：
G01R33/56
IPC分类号 ：
G01R33/56 G01R33/561 G01R33/483 G01R33/54 G01R33/24 G01R33/44 A61B5/055 G01R33/485 G01R33/565
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R33/00
测量磁变量的装置或仪器
G01R33/20
涉及磁共振
G01R33/44
采用核磁共振
G01R33/48
核磁共振图像系统
G01R33/54
信号处理系统，如使用脉冲序列
G01R33/56
图像增强或修正，如减法或平均技术
法律状态
2022-04-08 ：
授权
2020-04-21 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 33/56
申请日 : 20180330
申请日 : 20180330
2019-12-13 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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