实时X射线剂量计
授权
摘要
提供了一种具有光束源的辐射曝光系统。该系统还包括可变厚度降级器，该可变厚度降级器定位在光束源和待曝光的物体之间，用于向从光束源发射到物体上的辐射光束提供变化的降解度。该系统还包括一组检测器，位于可变厚度降级器与物体之间，用于接收并测量辐射光束在可变厚度降级器降解之后剩余的辐射光束的仅一部分。
基本信息
专利标题 ：
实时X射线剂量计
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110832613A
申请号 ：
CN201880044994.3
公开（公告）日 ：
2020-02-21
申请日 ：
2018-06-18
授权号 ：
CN110832613B
授权日 ：
2022-05-03
发明人 ：
J.G.梅西M.戈登K.罗德贝尔
申请人 ：
国际商业机器公司
申请人地址 ：
美国纽约阿芒克
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
王蕊瑞
优先权 ：
CN201880044994.3
主分类号 ：
H01J35/08
IPC分类号 ：
H01J35/08
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01J
放电管或放电灯
H01J35/00
X射线管
H01J35/02
零部件
H01J35/04
电极
H01J35/08
阳极；对阴极
法律状态
2022-05-03 ：
授权
2020-03-17 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01J 35/08
申请日 : 20180618
申请日 : 20180618
2020-02-21 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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