用于测量电场的装置
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摘要
本发明涉及一种用于测量电场(E)的装置，所述装置包括由在运行温度中导电的材料构成的微机械结构(1)，其中，所述微机械结构(1)具有框架区段(2)和能移动的区段(3)，其中，所述能移动的区段(3)与框架区段(2)导电地并且机械地弹性连接并且能够相对于所述框架区段(2)移动，其中，这样设计所述微机械结构(1)，使得在将所述微机械结构(1)布置在具有平行于第一方向(x)的不等于零的第一场强分量(Ex)的电场(E)中时，实现微机械结构(1)的电极化，所述电极化导致产生作用在所述能移动的区段(3)上的平行于第一方向(x)的第一力分量(Fx)以及所述能移动的区段(3)相对于框架区段(2)的空间布局的取决于所述第一力分量(Fx)的变化，并且其中，设置有探测器件(9、11、15、16)，以便确定所述能移动的区段(3)相对于框架区段(2)的空间布局的变化。
基本信息
专利标题 ：
用于测量电场的装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111656202A
申请号 ：
CN201880088088.3
公开（公告）日 ：
2020-09-11
申请日 ：
2018-11-16
授权号 ：
CN111656202B
授权日 ：
2022-04-19
发明人 ：
W.霍奇茨M.施蒂夫特H.施泰纳
申请人 ：
克莱姆斯多瑙大学
申请人地址 ：
奥地利克莱姆斯
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
侯宇
优先权 ：
CN201880088088.3
主分类号 ：
G01R29/12
IPC分类号 ：
G01R29/12
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/12
静电场的测量
法律状态
2022-04-19 ：
授权
2020-10-13 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 29/12
申请日 : 20181116
申请日 : 20181116
2020-09-11 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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