超快变电场的测量系统
专利权的终止未缴年费专利权终止
摘要
本发明提供一种超快变电场的测量系统。其特征是在聚焦系统和成像系统之间放入由起偏振器、普克尔盒和检偏振器组成的电光开关。被测脉冲信号加在电光开关上。超短脉冲发射光源发射一束光脉冲作为基础光束，由同步装置控制基础光束光脉冲和被测脉冲信号在电光开关内相迂。成像在探测器接收面上的光能量分布曲线就是被测信号随时间变化的曲线。本发明的测量系统能够测量超快变电场和光脉冲随时间变化的波形、测量的时间分辨率高于10-12秒。
基本信息
专利标题 ：
超快变电场的测量系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN87101030A
申请号 ：
CN87101030.5
公开（公告）日 ：
1988-11-09
申请日 ：
1987-04-30
授权号 ：
CN1011082B
授权日 ：
1991-01-02
发明人 ：
高福源陈淑琴
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所;陈淑琴;支婷婷;陈兰荣;邱佩华
申请人地址 ：
上海市8211信箱
代理机构 ：
中国科学院上海专利事务所
代理人 ：
李兰英
优先权 ：
CN87101030.5
主分类号 ：
G01R29/02
IPC分类号 ：
G01R29/02 G01R15/07
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01R
测量电变量；测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/02
单个脉冲特性的测量，如脉冲平度的偏差、上升时间或持续时间
法律状态
1994-03-23 ：
专利权的终止未缴年费专利权终止
1991-10-09 ：
授权
1991-01-02 ：
审定
1989-05-17 ：
实质审查请求
1988-11-09 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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