一种穆勒矩阵超快测量装置及方法
公开
摘要
本发明涉及一种穆勒矩阵测量装置及方法，具体涉及一种针对动态目标的穆勒矩阵超快测量装置及方法，用于解决现有方法无法实现多路入射光以相同的角度超高频依次入射，同时在特定的散射角度依次收集并测量对应散射光，进而实现穆勒矩阵超快测量的技术问题。该穆勒矩阵超快测量装置包括计算机终端、脉冲激光器、沿脉冲激光器光路依次设置的脉冲形状调制器、光纤耦合器、光纤组、光纤准直器、偏振调制器和第一透镜，以及沿所收集待测目标散射光的光路依次设置的第二透镜、空间滤波器、第三透镜和检偏器。同时，本发明还提供一种穆勒矩阵超快测量方法。
基本信息
专利标题 ：
一种穆勒矩阵超快测量装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114577732A
申请号 ：
CN202210165538.2
公开（公告）日 ：
2022-06-03
申请日 ：
2022-02-18
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
吴振杰刘彦鹏张振荣赵学庆叶景峰陶蒙蒙邵珺
申请人 ：
西北核技术研究所
申请人地址 ：
陕西省西安市灞桥区平峪路28号
代理机构 ：
西安智邦专利商标代理有限公司
代理人 ：
王少文
优先权 ：
CN202210165538.2
主分类号 ：
G01N21/21
IPC分类号 ：
G01N21/21 G01J4/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/21
影响偏振的性质
法律状态
2022-06-03 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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