一种超快时间复振幅测量装置和方法
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摘要
一种超快时间复振幅测量装置和方法，脉冲光源发出脉冲光经过光束延迟分束器模块分为多路脉冲光，多路脉冲光形成不同时间段的脉冲序列照射在超快变化的物体上，然后光束经过波前调制器模块进行调制后传播到达光强探测器。利用控制及数据处理模块对光强探测器记录的光斑进行迭代运算，可以获得待测物体不同时刻的复振幅分布。本发明可以测量超快事件不同时刻的光场复振幅分布。
基本信息
专利标题 ：
一种超快时间复振幅测量装置和方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112539823A
申请号 ：
CN202011461528.0
公开（公告）日 ：
2021-03-23
申请日 ：
2020-12-11
授权号 ：
CN112539823B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
潘兴臣徐英明刘诚朱健强
申请人 ：
中国科学院上海光学精密机械研究所
申请人地址 ：
上海市嘉定区清河路390号
代理机构 ：
上海恒慧知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
张宁展
优先权 ：
CN202011461528.0
主分类号 ：
G01H9/00
IPC分类号 ：
G01H9/00
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01H
机械振动或超声波、声波或次声波的测量
G01H9/00
应用对辐射敏感的装置，例如光学装置，测量机械振动或超声波、声波或次声波
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-04-09 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01H 9/00
申请日 : 20201211
申请日 : 20201211
2021-03-23 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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