时间测量的校正方法及装置
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摘要
一种时间测量的校正方法、现场可编程门阵列FPGA、印刷电路板PCB、测距装置和时间测量装置。其中，时间测量的校正方法应用于FPGA，FPGA内设置有至少一条TDC通道，时间测量的校正方法包括：FPGA确定进入时间测量的自校正模式(S510)；在自校正模式中：FPGA控制生成标准信号(S520)，标准信号用于对FPGA内的至少一条TDC通道进行校正；FPGA控制获取标准信号，并基于标准信号采集至少一条TDC通道的测量数据(S530)。时间测量的校正方法能够在FPGA的控制下对TDC进行自校正。
基本信息
专利标题 ：
时间测量的校正方法及装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111699442A
申请号 ：
CN201980005148.5
公开（公告）日 ：
2020-09-22
申请日 ：
2019-01-09
授权号 ：
CN111699442B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
王闯高明明刘祥洪小平
申请人 ：
深圳市大疆创新科技有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市南山区高新区南区粤兴一道9号香港科大深圳产学研大楼6楼
代理机构 ：
北京龙双利达知识产权代理有限公司
代理人 ：
孙涛
优先权 ：
CN201980005148.5
主分类号 ：
G04F10/04
IPC分类号 ：
G04F10/04 G01S17/10
IPC结构图谱
G
G部——物理
G04
测时学
G04F
时间间隔的测量
G04F10/00
用电装置测量未知的时间间隔的仪表
G04F10/04
用计数脉冲或交流电的半周波
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-10-20 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G04F 10/04
申请日 : 20190109
申请日 : 20190109
2020-09-22 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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