应用于闪存控制器的编码器自我测试电路及相关的方法

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摘要

本发明公开了一种应用于闪存控制器的编码器自我测试电路，包括控制电路和编码器。在编码器自我测试电路的操作中，在不对任何闪存进行存取的情形下，所述控制电路产生一输入数据至所述编码器，所述编码器对所述输入数据进行编码以产生一校验码至所述控制电路，以供判断所述编码器的功能是否正常。本发明的自我测试电路可在不需要连结到闪存模块的情形下对闪存控制器中的编码器进行功能测试，以准确地判断出编码器的功能是否异常，以避免现有技术中需要让闪存控制器与闪存模块相连后才能进行测试，而造成当闪存控制器有异常时导致相连结的闪存模块需要另外进行剥离制程的麻烦。

基本信息

专利标题：

应用于闪存控制器的编码器自我测试电路及相关的方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111048142A

申请号：

CN201910137901.8

公开（公告）日：

2020-04-21

申请日：

2019-02-25

授权号：

CN111048142B

授权日：

2022-05-24

发明人：

杨宗杰

申请人：

慧荣科技股份有限公司

申请人地址：

中国台湾新竹县

代理机构：

深圳新创友知识产权代理有限公司

代理人：

江耀纯

优先权：

CN201910137901.8

主分类号：

G11C29/56

IPC分类号：

G11C29/56