一种装配间隙的计算方法、装置、设备及存储介质
授权
摘要
本发明实施例公开了一种装配间隙的计算方法、装置、设备以及存储介质。包括：获取第一对接部内表面以及外表面上的采样点的坐标，得到第一基准坐标集合；获取第二对接部外表面上的采样点的坐标，得到第二基准坐标集合；在对接过程中，获取第一对接部外表面上的采样点的坐标以及第二对接部外表面未被第一对接部遮挡部分的采样点的坐标，得到第一实时坐标集合和第二实时坐标集合；计算第一对接部内表面上的采样点的坐标，得到第三实时坐标集合；计算第二对接部外表面被第一对接部遮挡部分的采样点的坐标，得到第四实时坐标集合。本发明实施例提供的技术方案可以实时、自动化获取装配间隙，进而提高装配效率。
基本信息
专利标题 ：
一种装配间隙的计算方法、装置、设备及存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN112146585A
申请号 ：
CN201910572568.3
公开（公告）日 ：
2020-12-29
申请日 ：
2019-06-28
授权号 ：
CN112146585B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
刘思仁邢宏文汪西王平方伟张亚
申请人 ：
上海飞机制造有限公司
申请人地址 ：
上海市浦东新区上飞路919号
代理机构 ：
北京品源专利代理有限公司
代理人 ：
孟金喆
优先权 ：
CN201910572568.3
主分类号 ：
G01B11/14
IPC分类号 ：
G01B11/14 G01B11/00
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B11/00
以采用光学方法为特征的计量设备
G01B11/14
用于计量相隔的物体或孔的间距或间隙
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2021-01-15 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 11/14
申请日 : 20190628
申请日 : 20190628
2020-12-29 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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