一种LCP柔性基板无源阻容元件的制备方法
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摘要

本发明提出了一种LCP柔性基板无源阻容元件的制备方法,在干净的LCP基板覆铜面电镀Ni/Pd/Au层,无覆铜表面溅射薄膜电阻层和导带层,进行电镀、光刻、湿法刻蚀,制备出电阻和导带,然后采用lift‑off工艺,在LCP基板上制作出电容层,最后表面溅射薄膜导带层,并进行电镀、光刻、湿法刻蚀,制作出电容上电极和导带,完成LCP柔性基板无源阻容元件的制备。该制作方法利用薄膜溅射工艺,可一次性在LCP基板上同时制作出薄膜电阻和薄膜电容,并可制作薄膜阻容网络,实现阻容元件的薄膜集成化、高精度控制,应用在高频器件LCP系统级封装中进行无源阻容元件的埋置,可大大节约LCP柔性基板表面空间,提高基板组装密度。

基本信息
专利标题 :
一种LCP柔性基板无源阻容元件的制备方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110400741A
申请号 :
CN201910681247.7
公开(公告)日 :
2019-11-01
申请日 :
2019-07-25
授权号 :
CN110400741B
授权日 :
2022-05-27
发明人 :
丁蕾罗燕刘凯沈玮陈韬王立春
申请人 :
上海航天电子通讯设备研究所
申请人地址 :
上海市闵行区中春路1777号
代理机构 :
上海汉声知识产权代理有限公司
代理人 :
胡晶
优先权 :
CN201910681247.7
主分类号 :
H01L21/02
IPC分类号 :
H01L21/02  H01L21/027  H01L21/308  H01L23/64  
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/02
半导体器件或其部件的制造或处理
法律状态
2022-05-27 :
授权
2019-11-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/02
申请日 : 20190725
2019-11-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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