一种仪器电控系统的可靠性试验方法
授权
摘要

本发明公开了一种仪器电控系统的可靠性试验方法,包括:收集电控系统的历史故障数据并存储在故障数据库中;根据所述历史故障数据,计算所述电控系统包含的若干个元器件的每个元器件的故障率;将故障率大于等于50%的元器件确定为试验元器件;根据所述试验元器件发生的故障类型,为所述电控系统确定可靠性试验的若干个试验项目;对所述试验元器件分别实施所述若干个试验项目的每一个试验项目,并记录试验数据;根据所述试验数据,确定所述电控系统的可靠性。通过本发明,能够提高对产品可靠性试验的针对性,快速检测出产品的故障,极大的缩短了试验周期,有利于研发人员快速获取产品的可靠性,更好的对产品电控系统进行改进,提高产品质量。

基本信息
专利标题 :
一种仪器电控系统的可靠性试验方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110398651A
申请号 :
CN201910726615.5
公开(公告)日 :
2019-11-01
申请日 :
2019-08-07
授权号 :
CN110398651B
授权日 :
2022-05-10
发明人 :
高军文武王红涛韦康梁华喜
申请人 :
广东科鉴检测工程技术有限公司
申请人地址 :
广东省广州市科学城玉树工业园J栋103房
代理机构 :
广州恒华智信知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
张建明
优先权 :
CN201910726615.5
主分类号 :
G01R31/00
IPC分类号 :
G01R31/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/00
电性能的测试装置;电故障的探测装置;以所进行的测试在其他位置未提供为特征的电测试装置;在制造过程中测试或测量半导体或固体器件入H01L21/66;线路传输系统的测试入H04B3/46)
法律状态
2022-05-10 :
授权
2019-11-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/00
申请日 : 20190807
2019-11-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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