本发明提供了一种光电探测器光敏面中心精确测量装置及方法，包括显微镜，还包括与显微镜配合使用的双竖轴组合检测装置，所述双竖轴组合检测装置包括从上至下依次连接的上竖轴盖、竖轴套和下竖轴座，所述上竖轴盖、竖轴套和下竖轴座均同轴。本发明主要针对双四象限光电探测器光敏面中心相对装配基准轴偏离量大和同轴度测量难题，可实现自动确定中心和准确定位。本发明提供的光电探测器光敏中心精确检测方法，通过修切消除带环光电探测器部件原方案装配过程产生的基准转换误差，剔除了器件制造基准与光敏面中心测量的基准轴之间偏离误差，既能满足超差器件的装配要求，又能消除原装配过程的基准转换误差。