一种印字偏移量检验工具
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摘要
本发明实施例公开了一种印字偏移量检验工具。本发明的印字偏移量检验工具，包括：箱体、垫板、检验面板、托板、定位螺钉和多个放大镜片；所述箱体的顶板设有多个长条形观察孔；所述垫板位于所述箱体内的底板上；所述定位螺钉用于将所述垫板安设在所述箱体的底板上；所述检验面板由透明材料制成，所述检验面板横设在所述箱体内；所述检验面板上设有线宽等于印字偏移量阈值的检验线条；所述托板用于将所述待检测产品抬升至所述进孔和所述出孔高度；多个所述放大镜片可滑动地卡设在所述长条形观察孔内。本发明的印字偏移量检验工具，结构简单、调试方便、操作步骤少、观测结果明显，有利于提高印字偏移量的检验效率。
基本信息
专利标题 ：
一种印字偏移量检验工具
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110634761A
申请号 ：
CN201910894268.7
公开（公告）日 ：
2019-12-31
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN110634761B
授权日 ：
2022-04-15
发明人 ：
乔红伟
申请人 ：
紫光宏茂微电子（上海）有限公司
申请人地址 ：
上海市青浦区工业园区崧泽大道9688号
代理机构 ：
上海市嘉华律师事务所
代理人 ：
黄琮
优先权 ：
CN201910894268.7
主分类号 ：
H01L21/66
IPC分类号 ：
H01L21/66 H01L21/67
相关图片
IPC结构图谱
H
H部——电学
H01
基本电气元件
H01L
半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L21/00
专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21/66
在制造或处理过程中的测试或测量
法律状态
2022-04-15 ：
授权
2020-01-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H01L 21/66
申请日 : 20191105
申请日 : 20191105
2019-12-31 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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