一种沉积岩Re赋存状态的分析方法
授权
摘要
本发明涉及一种沉积岩Re赋存状态的分析方法，属于Re元素分析技术领域，解决现有分析过程操作繁琐、智能化低、测试不准确的问题。步骤包括：使用热塑性树脂作为样品垫料，对垫好热塑性树脂的样品进行磨平，对磨平后的样品进行表面喷金；通过扫描电镜获得样品的扫描电镜图像，确定样品的矿物分布和形貌特征，使用X射线能谱仪打点检测目标区域组分的总化学成分，结合扫描电镜照片确定Re元素面扫描目标区域；通过激光剥蚀系统与电感耦合等离子体质谱联用技术对Re元素面扫描目标区域进行激光点剥蚀扫描，并记录扫描数据；根据扫描数据绘制Re元素二维分布图像；将扫描电镜图像和Re元素二维分布图像进行比对，确认扫描目标区域的Re赋存状态。
基本信息
专利标题 ：
一种沉积岩Re赋存状态的分析方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110793991A
申请号 ：
CN201910967664.8
公开（公告）日 ：
2020-02-14
申请日 ：
2019-10-12
授权号 ：
CN110793991B
授权日 ：
2022-05-27
发明人 ：
赵鸿李超赵九江屈文俊周利敏李欣尉
申请人 ：
国家地质实验测试中心
申请人地址 ：
北京市西城区百万庄大街26号
代理机构 ：
北京律恒立业知识产权代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
庞立岩
优先权 ：
CN201910967664.8
主分类号 ：
G01N23/22
IPC分类号 ：
G01N23/22 G01N23/2202 G01N27/62 G01N1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N23/00
利用波或粒子辐射来测试或分析材料，例如未包括在G01N3/00-G01N17/00、G01N 21/00 或G01N 22/00中的X射线或中子
G01N23/22
通过测量材料的二次发射
法律状态
2022-05-27 ：
授权
2020-03-10 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 23/22
申请日 : 20191012
申请日 : 20191012
2020-02-14 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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