基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法

授权

摘要

本申请提供的一种基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法，获取所测自然积污绝缘子的高光谱图像，根据所述绝缘子表面光谱谱线图和所述绝缘子表面相机图像分别提取特征波段和绝缘子区域；通过将特征波段谱线进行积分求面积，获取各个位置点的谱线积分值；以此为依据获取整体的积分差值和积分最小值，判定绝缘子表面污秽整体情况是否存在较不均匀情况；通过获取各个位置点的积分差值和其差值在位置‑积分差值空间中的梯度；来判定该点附近的污秽分布是否较不均匀；克服了传统高光谱建库检测绝缘子表面污秽分布，样本需求高且覆盖有限，推广性差，受拍摄条件影响大等问题，为绝缘子表面污秽提供清洗提示，提高输电线路的安全性。

基本信息

专利标题：

基于高光谱技术的绝缘子表面污秽分布特性检测方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN110632092A

申请号：

CN201911025950.9

公开（公告）日：

2019-12-31

申请日：

2019-10-25

授权号：

CN110632092B

授权日：

2022-05-20

发明人：

李谦慧马御棠马仪张血琴彭兆裕颜冰刘冲周仿荣潘浩文刚郭裕钧刘凯刘毅杰高国强

申请人：

云南电网有限责任公司电力科学研究院

申请人地址：

云南省昆明市经济技术开发区云大西路105号

代理机构：

北京弘权知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

逯长明

优先权：

CN201911025950.9

主分类号：

G01N21/94

IPC分类号：

G01N21/94