本发明涉及一种相变材料纳米线的组装、测试装置及测试方法，采用施加频率、电压，在一定的时间作用下，将已经制备好的相变材料纳米线在长轴与短轴的作用力下拖拉至两个电极之间完成搭接，再施加测试激励从而完成纳米线的电学性能测试。在设计了电学测试装置与方法的基础之上，进一步对电学性能测试的过程进行了优化，提出了在整个组装及测试过程中的影响因素，提出了快速化的组装测试的具体方案，首先通过模拟分析长轴与短轴的频率，选择合适的频率范围，再通过外加电场和作用时间的影响来选择相应的激励源，从而完成满足测试条件的单根纳米线的搭接，实现了相变材料纳米线的测试。