数字芯片片内电源波动的检测方法、系统和存储介质
授权
摘要
本发明公开了一种数字芯片片内电源波动的检测方法、系统和存储介质，其中方法包括以下步骤：采集数字芯片中锁相环电路的控制电压；根据控制电压获取电源电压波动的幅度；其中，所述控制电压为锁相环电路内的鉴相/鉴相器、电荷泵或环路滤波器的输出电压。本发明通过锁相环电路中的控制电压来表征电源电压波动的幅度，避免寄生电感的影响，能够准确地获得电源波动的幅度值，可广泛应用于芯片检测领域。
基本信息
专利标题 ：
数字芯片片内电源波动的检测方法、系统和存储介质
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111106827A
申请号 ：
CN201911251912.5
公开（公告）日 ：
2020-05-05
申请日 ：
2019-12-09
授权号 ：
CN111106827B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
粟涛张志文陈弟虎
申请人 ：
中山大学
申请人地址 ：
广东省广州市海珠区新港西路135号
代理机构 ：
广州嘉权专利商标事务所有限公司
代理人 ：
何文聪
优先权 ：
CN201911251912.5
主分类号 ：
H03L7/085
IPC分类号 ：
H03L7/085
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-05-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : H03L 7/085
申请日 : 20191209
申请日 : 20191209
2020-05-05 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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