光学分析和采样系统
授权
摘要

本发明涉及光学分析和采样系统。具体地,在一种实施方式中,光学系统包括具有由壳体的内表面限定的内部流体腔的光室,布置在壳体中并与内部流体腔流体连通的过程入口,以及布置在壳体中并与内部流体腔流体连通的过程出口,其中过程入口和过程出口促进流体通过内部流体腔的流动。采样出口可以布置在壳体中并与内部流体腔流体连通。第一双向泵可以与采样出口和第一储存容器流体连通并且可以配置为通过采样出口抽取流体的第一样品并使第一样品流入第一储存容器。

基本信息
专利标题 :
光学分析和采样系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN110987528A
申请号 :
CN201911267749.1
公开(公告)日 :
2020-04-10
申请日 :
2015-11-23
授权号 :
CN110987528B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
马克·埃里克·纳尔逊阿尔卡季·萨穆伊洛维奇·德克曼安德烈·弗拉基米罗维奇·济年科夫
申请人 :
沙特基础工业全球技术有限公司
申请人地址 :
荷兰贝尔根奥普佐姆市
代理机构 :
北京康信知识产权代理有限责任公司
代理人 :
陈知宇
优先权 :
CN201911267749.1
主分类号 :
G01N1/10
IPC分类号 :
G01N1/10  G01N21/05  G01N21/27  G01N21/75  G01N1/38  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N1/00
取样;制备测试用的样品
G01N1/02
取样装置
G01N1/10
液体或流体的
法律状态
2022-06-07 :
授权
2020-05-05 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 1/10
申请日 : 20151123
2020-04-10 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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