用于校准坐标测量仪的标准器
授权
摘要
一种用于校准坐标测量仪的标准器(10)，该标准器具有基体(12)，该基体具有永久性校准结构(14)。该校准结构(14)具有第一组件(15)。该第一组件(15)以如下方式设计，使得该第一组件(15)向平面的投影(20)的相交于共同点(16)的三条轴线(18)分别穿过相同设计的第一区段(22)。这些第一区段(22)在一侧分别由共同点(16)界定。这些相同设计的第一区段(22)分别具有n个区(24)。直接相邻的区(24)的不同之处在于光学特征。n大于或等于3。
基本信息
专利标题 ：
用于校准坐标测量仪的标准器
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN111380494A
申请号 ：
CN201911371274.0
公开（公告）日 ：
2020-07-07
申请日 ：
2019-12-26
授权号 ：
CN111380494B
授权日 ：
2022-06-07
发明人 ：
V.格雷夫兹U.霍尔兹N.哈弗坎普U.蔡瑟
申请人 ：
卡尔蔡司工业测量技术有限公司
申请人地址 ：
德国上科亨
代理机构 ：
北京市柳沈律师事务所
代理人 ：
王蕊瑞
优先权 ：
CN201911371274.0
主分类号 ：
G01B21/04
IPC分类号 ：
G01B21/04 G01B11/03 G01C15/02
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01B
长度、厚度或类似线性尺寸的计量；角度的计量；面积的计量；不规则的表面或轮廓的计量
G01B21/00
不适合于本小类其他组中所列的特定类型计量装置的计量设备或其零部件
G01B21/02
用于计量长度、宽度或厚度
G01B21/04
通过测量各点的坐标
法律状态
2022-06-07 ：
授权
2020-07-31 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01B 21/04
申请日 : 20191226
申请日 : 20191226
2020-07-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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