一种坐标测量设备计量特性校准的标准件

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摘要

本发明公开的一种坐标测量设备计量特性校准的标准件，属于几何量仪器测试校准领域。本发明包括四个圆球组成的测量基准和系列几何特征。系列特征包括凹凸球面、内、外锥面、内外圆柱面、系列直槽、系列圆柱盲孔、斜槽、垂向楔角和具有叶片形状曲线、曲面特征。本发明复合了多种几何形状特征，执行校准时根据需要进行特征组合，同时满足不同测量设备的计量特性校准需求；本发明包含叶片特征的复杂曲面结构，实现叶片坐标接触式测量和光学非接触式扫描测量下叶型参数的量值溯源需求，保证叶片叶型参数评价结果的一致性。本发明包含沟槽和小孔结构，提供干涉测量、光学变焦测量等测量设备在微小几何特征参数测量的计量校准能力。

基本信息

专利标题：

一种坐标测量设备计量特性校准的标准件

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN112362011A

申请号：

CN202011280407.6

公开（公告）日：

2021-02-12

申请日：

2020-11-16

授权号：

CN112362011B

授权日：

2022-06-03

发明人：

王爱军王一璋刘峻峰何小妹董佳佳

申请人：

中国航空工业集团公司北京长城计量测试技术研究所

申请人地址：

北京市海淀区温泉镇环山村

代理机构：

北京正阳理工知识产权代理事务所(普通合伙)

代理人：

王民盛

优先权：

CN202011280407.6

主分类号：

G01B21/04

IPC分类号：

G01B21/04