液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置及方法
实质审查的生效
摘要
本申请涉及一种液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置及方法，该装置包括光源、准直器、半波片、LC‑SLM、干涉仪和CCD，光源用于发射信号光；准直器用于将光源发射的信号光扩束为平行光；半波片用于将准直器转换后的平行光转换为线偏振光；LC‑SLM用于使一部分的线偏振光不经过相位调制后进行输出，另一部分的线偏振光经过相位调制后进行输出；干涉仪具有两个小孔，其用于使未经过相位调制后的线偏振光和经过相位调制后的线偏振光分别通过两个小孔后发生干涉；图像探测器CCD用于探测干涉后的线偏振光。本申请的液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置，得到的干涉图像稳定性更好，计算准确性也更好，而且结构简单，成本较低。
基本信息
专利标题 ：
液晶空间光调制器相位特性的测量校准装置及方法
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114323569A
申请号 ：
CN202011041828.3
公开（公告）日 ：
2022-04-12
申请日 ：
2020-09-28
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
刘子晨邱英陶金尤全肖希余少华
申请人 ：
武汉邮电科学研究院有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市洪山区邮科院路88号
代理机构 ：
武汉智权专利代理事务所(特殊普通合伙)
代理人 ：
孟欢
优先权 ：
CN202011041828.3
主分类号 ：
G01M11/02
IPC分类号 ：
G01M11/02
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试；其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-04-29 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20200928
申请日 : 20200928
2022-04-12 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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