一种透射式空间光调制器相位和振幅调制特性的测量方法
实质审查的生效
摘要

一种透射式空间光调制器相位和振幅调制特性的测量方法,包括如下步骤:S1、搭建光路,使激光通过双缝分别与空间光调制器不同区域调制;S2、通过图像采集双缝干涉光路,提取得到干涉条纹曲线;S3、采用相位模型转换计算出灰度相位曲线;S4、通过计算图像对比度,得到分别通过双缝间的光强差异,得到振幅调制效果;本发明无需其他光学器件,利用激光和CCD,在调制器上加载双缝图案即可测得对应的相位与振幅调制特性,此方式相较于利用反射镜生成参考波来干涉的方式,最大特点在于不需要参考波,利用双缝干涉完成相位和振幅的标定。

基本信息
专利标题 :
一种透射式空间光调制器相位和振幅调制特性的测量方法
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114354140A
申请号 :
CN202210030463.7
公开(公告)日 :
2022-04-15
申请日 :
2022-01-12
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
高星夏高飞武耀霞王华
申请人 :
西安中科微星光电科技有限公司
申请人地址 :
陕西省西安市高新区毕原二路3000号西科控股硬科技企业社区3号楼301室
代理机构 :
深圳市科进知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
孟洁
优先权 :
CN202210030463.7
主分类号 :
G01M11/02
IPC分类号 :
G01M11/02  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01M
机器或结构部件的静或动平衡的测试;其他类目中不包括的结构部件或设备的测试
G01M11/02
•光学性质测试
法律状态
2022-05-03 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01M 11/02
申请日 : 20220112
2022-04-15 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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