一种显示模组、检测方法及电子设备
授权
摘要
本申请公开了一种显示模组、检测方法及电子设备,其中,显示模组的显示面板包括衬底、发光元件、像素电路和检测电路,检测电路包括第一输入端、第二输入端和参考电压输出端,检测电路的工作状态包括第一状态和第二状态,通过改变检测电路的工作状态可以实现将经第一参考电压传输给参考电压输出端,或将第二参考电压传输给参考电压输出端的目的,从而实现使第一参考电压配合像素电路控制发光元件正常工作,或使第一参考电压与第二参考电压配合对发光元件和像素电路的薄膜晶体管检测的目的,即在薄膜晶体管检测时,无需对显示模组进行拆解和使用微米扎针扎探相应线路的步骤,简化了显示模组中薄膜晶体管的检测工序,提高了薄膜晶体管的检测效率。
基本信息
专利标题 :
一种显示模组、检测方法及电子设备
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111044874A
申请号 :
CN201911408272.4
公开(公告)日 :
2020-04-21
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN111044874B
授权日 :
2022-05-24
发明人 :
周小林李强龙刘川
申请人 :
武汉天马微电子有限公司
申请人地址 :
湖北省武汉市东湖新技术开发区东一产业园流芳园路8号
代理机构 :
北京允天律师事务所
代理人 :
王萌
优先权 :
CN201911408272.4
主分类号 :
G01R31/26
IPC分类号 :
G01R31/26 G01R31/27 G01R1/28
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/26
•单个半导体器件的测试
法律状态
2022-05-24 :
授权
2020-05-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/26
申请日 : 20191231
申请日 : 20191231
2020-04-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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