显示模组、显示模组的测试方法及电子设备
公开
摘要
本申请实施例公开了一种显示模组、显示模组的测试方法及电子设备，该显示模组包括：第一绑定区，包括多个控制信号线；第二绑定区，包括多个控制信号线组，每一控制信号线组由多个控制信号线中的多个同类型的控制信号线组成，其中，每一控制信号线组中的多个同类型的控制信号线相互短接；第一切割道，设置在第二绑定区远离第一绑定区一侧，第一切割道用于形成多个控制信号线组对应的多个第一测试点；检测装置，用于分别对多个第一测试点进行绑定测试，得到多个控制信号线组对应的多个第一测试结果。本申请通过在第二绑定区将部分同类型的控制信号线短接的方式，设计出满足模组测试需求的中间形态，降低研发测试成本，加快项目开发进度。
基本信息
专利标题 ：
显示模组、显示模组的测试方法及电子设备
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN114597243A
申请号 ：
CN202210197223.6
公开（公告）日 ：
2022-06-07
申请日 ：
2022-03-02
授权号 ：
暂无
授权日 ：
暂无
发明人 ：
申郑
申请人 ：
深圳市华星光电半导体显示技术有限公司
申请人地址 ：
广东省深圳市光明新区公明街道塘明大道9-2号
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
李镇江
优先权 ：
CN202210197223.6
主分类号 ：
H01L27/32
IPC分类号 ：
H01L27/32 G09G3/00
法律状态
2022-06-07 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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