测试线路、测试方法及显示面板
授权
摘要

本申请涉及一种测试线路、显示面板及显示装置。该测试线路包括:测试短棒;至少一组连接头,所述连接头的一端与所述测试短棒电连接,所述连接头的另一端与所述阵列基板的扇出区的数据线电连接;至少两组视角反差线,两组视角反差线分别置于所述连接头的两侧;第一视角反差线、第二视角反差线及连接头三者相互平行;每组视角反差线包括N条子视角反差线,N≥1,且N为整数;子视角反差线的宽度大于所述数据线的宽度;以及精度标识,设置于连接头与视角反差线之间;精度标识与视角反差线的中心处于同一直线上,精度标识的开口方向与连接头的延伸方向垂直。本申请可有效降低激光切割时的切割浪费。

基本信息
专利标题 :
测试线路、测试方法及显示面板
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN109557738A
申请号 :
CN201811573958.4
公开(公告)日 :
2019-04-02
申请日 :
2018-12-21
授权号 :
CN109557738B
授权日 :
2022-06-10
发明人 :
陈宏辉
申请人 :
惠科股份有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市宝安区石岩街道水田村民营工业园惠科工业园厂房1、2、3栋,九州阳光1号厂房5、7楼
代理机构 :
广州华进联合专利商标代理有限公司
代理人 :
李文渊
优先权 :
CN201811573958.4
主分类号 :
G02F1/1362
IPC分类号 :
G02F1/1362  G02F1/1333  G09G3/00  H01L27/32  H01L51/56  
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IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如转换、选通、调制或解调,上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的;用于上述操作的技术或工艺;变频;非线性光学;光学逻辑元件;光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置,例如,转换、选通或调制;非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的,例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备;液晶单元的工作;电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元,例如形成集成电路部分的液晶单元
G02F1/1362
有源矩阵寻址单元
法律状态
2022-06-10 :
授权
2019-04-26 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/1362
申请日 : 20181221
2019-04-02 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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