显示面板及其测试方法

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摘要

一种显示面板及其测试方法，所述显示面板通过将触控走线由非显示子区延伸至所述切割区，并且使所述切割区的触控走线密度小于所述非显示子区的触控走线密度，以便于外部测试电路与所示切割区的触控走线进行精确对位连接，方便在显示面板绑定IC前对所述触控电极进行各项性能测试；提高了检测效率，此外，也充分合理的利用了显示面板在制作过程中的切割区部分，并且，在进行测试完之后，可以将所述切割区的部分切掉，以便后续制作。

基本信息

专利标题：

显示面板及其测试方法

专利标题（英）：

暂无

公开（公告）号：

CN111129090A

申请号：

CN201911307776.7

公开（公告）日：

2020-05-08

申请日：

2019-12-18

授权号：

CN111129090B

授权日：

2022-05-31

发明人：

林丹戴其兵刘敏伦

申请人：

武汉华星光电半导体显示技术有限公司

申请人地址：

湖北省武汉市东湖新技术开发区高新大道666号光谷生物创新园C5栋305室

代理机构：

深圳紫藤知识产权代理有限公司

代理人：

张晓薇

优先权：

CN201911307776.7

主分类号：

H01L27/32

IPC分类号：

H01L27/32 H01L21/66 G06F3/041