显示面板测试装置和显示面板测试系统
实质审查的生效
摘要

本申请提供一种显示面板测试装置和显示面板测试系统,显示面板测试装置包括电路板、测试构件、连接构件和单向导通构件,电路板用于提供测试信号,测试构件包括相互独立的多个测试探头,各测试探头用于与待测显示面板上相互独立的各连接端子一一贴合,以使测试信号输入至待测显示面板,连接构件包括相互独立的多条测试线,各测试线的输入端分别与电路板连接,各测试线的输出端分别与对应的测试探头连接,单向导通构件设置在至少一条测试线上,用于导通由对应测试线的输入端流向输出端的信号,阻止由对应测试线的输出端流向输入端的信号。本申请中异物短路产生的逆向大电流可以被单向导通构件阻止无法进入电路板中,从而实现了对电路板的保护。

基本信息
专利标题 :
显示面板测试装置和显示面板测试系统
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN114545198A
申请号 :
CN202210115690.X
公开(公告)日 :
2022-05-27
申请日 :
2022-02-07
授权号 :
暂无
授权日 :
暂无
发明人 :
不公告发明人
申请人 :
TCL华星光电技术有限公司
申请人地址 :
广东省深圳市光明新区塘明大道9-2号
代理机构 :
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 :
邓敬威
优先权 :
CN202210115690.X
主分类号 :
G01R31/28
IPC分类号 :
G01R31/28  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R31/28
•电路的测试,例如用信号故障寻测器
法律状态
2022-06-14 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01R 31/28
申请日 : 20220207
2022-05-27 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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