显示面板和测试系统
授权
摘要
本发明提供一种显示面板和测试系统，该显示面板包括绑定区和位于所述绑定区两侧的缓冲区，所述显示面板包括衬底、薄膜晶体管、平坦化层、钝化层和测试端子，通过在平坦化层和钝化层上分别在缓冲区内形成第二过孔和第三过孔，使得测试端子通过第二过孔和第三过孔与金属走线的两端连接，从而使得可以通过测试端子对金属走线进行测试，相应的得到金属走线的状态，解决了现有显示面板存在无法检测金属走线阻抗变大甚至断裂的技术问题。
基本信息
专利标题 ：
显示面板和测试系统
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
CN110850651A
申请号 ：
CN201911072687.9
公开（公告）日 ：
2020-02-28
申请日 ：
2019-11-05
授权号 ：
CN110850651B
授权日 ：
2022-05-31
发明人 ：
戴荣磊
申请人 ：
武汉华星光电技术有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市东湖开发区高新大道666号生物城C5栋
代理机构 ：
深圳紫藤知识产权代理有限公司
代理人 ：
张晓薇
优先权 ：
CN201911072687.9
主分类号 ：
G02F1/1362
IPC分类号 ：
G02F1/1362 G02F1/13
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G02
光学
G02F
用于控制光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如转换、选通、调制或解调，上述器件或装置的光学操作是通过改变器件或装置的介质的光学性质来修改的；用于上述操作的技术或工艺；变频；非线性光学；光学逻辑元件；光学模拟/数字转换器
G02F1/00
控制来自独立光源的光的强度、颜色、相位、偏振或方向的器件或装置，例如，转换、选通或调制；非线性光学
G02F1/01
对强度、相位、偏振或颜色的控制
G02F1/13
基于液晶的，例如单位液晶显示单元
G02F1/133
构造上的设备；液晶单元的工作；电路装置
G02F1/136
结构上与一半导体层或基片相结合的液晶单元，例如形成集成电路部分的液晶单元
G02F1/1362
有源矩阵寻址单元
法律状态
2022-05-31 ：
授权
2020-03-24 ：
实质审查的生效
IPC(主分类) : G02F 1/1362
申请日 : 20191105
申请日 : 20191105
2020-02-28 ：
公开
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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