本实用新型测试模组，包括：一测试板，设有至少四第一电性接触部；一绝缘本体，组设于测试板上，具有一第一表面和一第二表面，且设有至少二收容槽贯穿第一和第二表面，且于每一收容槽的两侧设有一固定槽；至少二导电端子，分别收容于收容槽内，设有第一导接部，第一导接部两端弯曲延伸形成弹性臂，弹性臂延伸形成第二导接部电性接触第一电性接触部，第二导接部进一步弯折延伸形成收容于固定槽的一固定部；以及一芯片，组设于绝缘本体上并邻近第二表面，设有至少二第二电性接触部电性接触所述第一导接部；芯片压制导电端子至测试板使第二导接部与电性接触部摩擦接触并产生相对位移。本实用新型测试模组提高了所述导电端子的导电性能。