天线测试模组
授权
摘要

本实用新型提供了天线测试模组,包括下模定位机构、天线测试机构,所述下模定位机构包括载板,所述载板上设有FPC放置槽,所述FPC放置槽内设有若干个FPC折弯定位件,所述FPC折弯定位件设有用于承托FPC折弯结构的斜面,所述天线测试机构包括上模定位件、升降件、天线测试件,所述天线测试件通过升降件安装在上模定位件上,所述上模定位件位于下模定位机构上方,所述天线测试机构还包括FPC折弯铜环测试件,所述FPC折弯铜环测试件下表面设有与FPC折弯定位件斜面配合的测试面。本实用新型提供了天线测试模组,解决现有技术中定位差,天线易压坏的问题。

基本信息
专利标题 :
天线测试模组
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN202020693679.8
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2020-04-29
授权号 :
CN212749055U
授权日 :
2021-03-19
发明人 :
龙平李勇傅林永周家进
申请人 :
珠海博杰电子股份有限公司
申请人地址 :
广东省珠海市香洲区福田路10号厂房1一楼-1、二、三、四楼
代理机构 :
广州三环专利商标代理有限公司
代理人 :
肖宇扬
优先权 :
CN202020693679.8
主分类号 :
G01R29/10
IPC分类号 :
G01R29/10  G01R31/28  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01R
测量电变量;测量磁变量
G01R29/00
不包括在G01R19/00至G01R27/00各组中的电量的测量或指示装置
G01R29/08
电磁场特性的测量
G01R29/10
天线的辐射图
法律状态
2021-03-19 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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1、
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