一种材料舱外互检式暴露装置
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摘要

本发明涉及一种材料舱外互检式暴露装置,包括间隔设置的暴露装置一和暴露装置二,所述暴露装置一和暴露装置二均包括:承力机构,承力机构上安装有若干试验箱和光学巡检装置,若干试验箱分别设置在所述承力机构四周,若干所述试验箱合围成一与承力机构外部连通的光学巡检通道,所述光学巡检装置安装在所述光学巡检通道内;底座,承力机构安装在底座上方中部并能够相对底座转动;旋转机构,旋转机构安装在底座和承力机构之间,用于驱动所述承力机构及其上的试验箱和光学巡检装置在相对于底座旋转;其中,暴露装置一旋转时,暴露装置二上的光学巡检装置对暴露装置一上的试验箱暴露面进行光学巡检。本发明的暴露装置,可利用两个暴露装置相互检测。

基本信息
专利标题 :
一种材料舱外互检式暴露装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111089863A
申请号 :
CN201911413641.9
公开(公告)日 :
2020-05-01
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN111089863B
授权日 :
2022-06-07
发明人 :
张伟贵张聚乐王乐天王珂杨鹏邓明哲郭志奇
申请人 :
中国科学院空间应用工程与技术中心
申请人地址 :
北京市海淀区邓庄南路九号
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
吴佳
优先权 :
CN201911413641.9
主分类号 :
G01N21/84
IPC分类号 :
G01N21/84  G01N21/01  G01N17/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/84
专用于特殊应用的系统
法律状态
2022-06-07 :
授权
2020-05-29 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 21/84
申请日 : 20191231
2020-05-01 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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