一种材料暴露试验箱锁紧机构以及暴露装置
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摘要

本发明涉及一种材料暴露试验箱锁紧机构以及暴露装置,锁紧机构包括锁紧支架,锁紧支架一侧边上设有滑槽,滑槽的槽壁上形成有限位缺口,锁紧支架上设有导向锁紧件,导向锁紧件贯穿滑槽的两槽壁设置;试验箱的侧壁上分别设有与之间隔布置的挡板,挡板一端与试验箱侧壁之间形成安装口,挡板与试验箱的侧壁之间设有分隔筋,分隔筋将挡板与试验箱的侧壁之间分隔成上下布置的若干安装槽,挡板上设有导向口;其中,滑槽形成限位缺口的槽壁插入安装槽内,分隔筋插入限位缺口内,导向锁紧件插入导向口内并将挡板锁紧在滑槽内。本发明依靠锁紧支架将挡板压紧,整体结构十分紧凑,可实现快速精确拆装,结构稳定牢固,能够满足空间站的环境需求。

基本信息
专利标题 :
一种材料暴露试验箱锁紧机构以及暴露装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
CN111044441A
申请号 :
CN201911417837.5
公开(公告)日 :
2020-04-21
申请日 :
2019-12-31
授权号 :
CN111044441B
授权日 :
2022-04-19
发明人 :
张聚乐张伟贵王乐天王珂王辅辅劳冠清冯振华
申请人 :
中国科学院空间应用工程与技术中心
申请人地址 :
北京市海淀区邓庄南路九号
代理机构 :
北京轻创知识产权代理有限公司
代理人 :
吴佳
优先权 :
CN201911417837.5
主分类号 :
G01N17/00
IPC分类号 :
G01N17/00  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N17/00
测试材料的耐气候,耐腐蚀,或耐光照性能
法律状态
2022-04-19 :
授权
2020-05-15 :
实质审查的生效
IPC(主分类) : G01N 17/00
申请日 : 20191231
2020-04-21 :
公开
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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