一种用于对闪烁体发光强度进行刻度的替代光源装置
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摘要

本实用新型公开了一种用于对闪烁体发光强度进行刻度的替代光源装置,其包括包括壳体,壳体内形成暗室,暗室内设有:PCB板,PCB板上设有发光电路,发光电路包括输入端、限流电阻和发光二极管,输入端与外部脉冲发生器连接,限流电阻的第一端与输入端连接,第二端与发光二极管的负极连接,发光二极管的正极接地;传输光纤,传输光纤与外部光强探测器连接;通过调节脉冲发生器的参数来调节发光二极管的光强,从而对光强探测器进行刻度。本实用新型为发光二极管设计了发光电路,使发光二极管的发光参数可以根据需求可调。可通过不断改变脉冲发生器参数,控制发光二极管的发光强度,对光强探测器进行刻度。

基本信息
专利标题 :
一种用于对闪烁体发光强度进行刻度的替代光源装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920398311.6
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-27
授权号 :
CN209690521U
授权日 :
2019-11-26
发明人 :
杨翠萍李一秋文万信王仁生
申请人 :
苏州大学
申请人地址 :
江苏省苏州市相城区济学路8号
代理机构 :
苏州市中南伟业知识产权代理事务所(普通合伙)
代理人 :
殷海霞
优先权 :
CN201920398311.6
主分类号 :
G01T1/20
IPC分类号 :
G01T1/20  G01T7/00  
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01T
核辐射或X射线辐射的测量
G01T1/00
X射线辐射、γ射线辐射、微粒子辐射或宇宙线辐射的测量
G01T1/16
辐射强度测量
G01T1/20
用闪烁探测器
法律状态
2019-11-26 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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