光谱可配置的可见与太赫兹多光谱复合探测成像装置
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摘要

本专利公开了一种光谱可配置的可见与太赫兹多光谱复合探测成像装置,该专利基于光学滤波技术和孔径分割技术,将面阵滤光片、面阵透镜和面阵探测器相结合,采用可见多光谱成像通道与太赫兹多光谱成像通道共孔径设计,结合具有扫描功能的反射镜、物距可调的卡塞格林望远镜和通道可配置的滤光片包,实现不同距离目标的多光谱复合探测成像,适用于深空探测、航空遥感等领域。

基本信息
专利标题 :
光谱可配置的可见与太赫兹多光谱复合探测成像装置
专利标题(英):
暂无
公开(公告)号 :
暂无
申请号 :
CN201920411659.4
公开(公告)日 :
暂无
申请日 :
2019-03-29
授权号 :
CN209927715U
授权日 :
2020-01-10
发明人 :
杨秋杰何志平舒嵘
申请人 :
中国科学院上海技术物理研究所
申请人地址 :
上海市虹口区玉田路500号
代理机构 :
上海沪慧律师事务所
代理人 :
郭英
优先权 :
CN201920411659.4
主分类号 :
G01N21/3581
IPC分类号 :
G01N21/3581  G01N21/01  
相关图片
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量;测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段,即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色;光谱性质,即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/31
测试材料在特定元素或分子的特征波长下的相对效应,例如原子吸收光谱术
G01N21/35
利用红外光
G01N21/3581
利用远红外光;利用太赫兹辐射
法律状态
2020-01-10 :
授权
注:本法律状态信息仅供参考,即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
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