一种集成式光谱测量与成像探测装置
授权
摘要
本实用新型公开了一种集成式光谱测量与成像探测装置，其包括成像单元，包括第一镜头和光学传感器，第一镜头在物面区具有第一视域；单点测量单元，包括第二镜头和单点测量探头，第二镜头在物面区具有第二视域；第一视域与第二视域相交形成相交视域，所述单点测量单元的测量位置位于相交视域内。本实用新型不仅能够在同一工位上实现对显示面板的光谱检测和瑕疵缺陷检测，而且能够在检测过程中保证光能量不衰减，具有良好的测量精度。
基本信息
专利标题 ：
一种集成式光谱测量与成像探测装置
专利标题（英）：
暂无
公开（公告）号 ：
暂无
申请号 ：
CN202220198145.7
公开（公告）日 ：
暂无
申请日 ：
2022-01-25
授权号 ：
CN216247688U
授权日 ：
2022-04-08
发明人 ：
洪志坤欧昌东郑增强刘荣华
申请人 ：
武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司
申请人地址 ：
湖北省武汉市武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
代理机构 ：
武汉开元知识产权代理有限公司
代理人 ：
黄行军
优先权 ：
CN202220198145.7
主分类号 ：
G01N21/27
IPC分类号 ：
G01N21/27 G01N21/88 G01N21/01
IPC结构图谱
G
G部——物理
G01
测量；测试
G01N
借助于测定材料的化学或物理性质来测试或分析材料
G01N21/00
利用光学手段，即利用亚毫米波、红外光、可见光或紫外光来测试或分析材料
G01N21/17
入射光根据所测试的材料性质而改变的系统
G01N21/25
颜色；光谱性质，即比较材料对两个或多个不同波长或波段的光的影响
G01N21/27
利用光电检测
法律状态
2022-04-08 ：
授权
注：本法律状态信息仅供参考，即时准确的法律状态信息须到国家知识产权局办理专利登记簿副本。
文件下载
暂无PDF文件可下载
